线扫镜头

E3700


靶面 90.0mm
焦距(mm) 120.0
放大倍率 -0.50
相对通光孔径 F5.6-F16
分辨率 16K5μ

E3653


靶面 66.0mm
焦距(mm) 90.0
放大倍率 -0.09
相对通光孔径 F4.0-F16
分辨率 12K5μ

E3690


靶面 60.0mm
焦距(mm) 38.0
放大倍率 -0.17
相对通光孔径 F5.6-F16
分辨率 8K7μ

E3652


靶面 44.0mm
焦距(mm) 50.0
放大倍率 -0.22
相对通光孔径 F2.2-F22
分辨率 8K5μ

E3656


靶面 43.2mm
焦距(mm) 41.5
放大倍率 -0.13
相对通光孔径 F2.8-F22
分辨率 8K5μ

E3681


靶面 30.0mm
焦距(mm) 20.0
放大倍率 -0.04
相对通光孔径 F4.5-F16
分辨率 4K7μ

主要特征

  • 高性价比
  • 色差校正设计
  • 应用于锂电,PCB,LCD,半导体缺陷检测
  • 高像素,低畸变,支持8K7y,4K12y,16K3.5u

应用领域

机器视觉领域

主要特征

  • 高性价比
  • 色差校正设计
  • 应用于锂电,PCB,LCD,半导体缺陷检测
  • 高像素,低畸变,支持8K7y,4K12y,16K3.5u

应用领域

机器视觉领域

主要特征

  • 高性价比
  • 色差校正设计
  • 应用于锂电,PCB,LCD,半导体缺陷检测
  • 高像素,低畸变,支持8K7y,4K12y,16K3.5u

应用领域

机器视觉领域

主要特征

  • 高性价比
  • 色差校正设计
  • 应用于锂电,PCB,LCD,半导体缺陷检测
  • 高像素,低畸变,支持8K7y,4K12y,16K3.5u

应用领域

机器视觉领域

主要特征

  • 高性价比
  • 色差校正设计
  • 应用于锂电,PCB,LCD,半导体缺陷检测
  • 高像素,低畸变,支持8K7y,4K12y,16K3.5u

应用领域

机器视觉领域

主要特征

  • 高性价比
  • 色差校正设计
  • 应用于锂电,PCB,LCD,半导体缺陷检测
  • 高像素,低畸变,支持8K7y,4K12y,16K3.5u

应用领域

机器视觉领域

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